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AlGaN/GaN HEMT热形貌分布特性仿真
引用本文:钟红生,孙玲玲,董林玺. AlGaN/GaN HEMT热形貌分布特性仿真[J]. 杭州电子科技大学学报, 2011, 31(3): 1-4
作者姓名:钟红生  孙玲玲  董林玺
作者单位:杭州电子科技大学,电子信息学院,浙江杭州,310018
基金项目:国家重点实验室开发基金资助项目(KYH043110023)
摘    要:该文从泊松方程、连续性方程和晶格热方程出发,采用商用TCAD软件建立A1GaN/GaNHEMT器件二维模型.针对自加热效应,在不同的直流偏置电压下,对AlGaN/GaN HEMT器件进行了二维数值分析,获得相应的热形貌分布.

关 键 词:铝镓氮/氮化镓  高电子迁移率晶体管  自加热效应  热分析

Simulation of Thermal Profiles on AlGaN/GaN HEMT
ZHONG Hong-sheng,SUN Ling-ling,DONG Lin-xi. Simulation of Thermal Profiles on AlGaN/GaN HEMT[J]. Journal of Hangzhou Dianzi University, 2011, 31(3): 1-4
Authors:ZHONG Hong-sheng  SUN Ling-ling  DONG Lin-xi
Affiliation:ZHONG Hong-sheng,SUN Ling-ling,DONG Lin-xi(School of Electronics Information,Hangzhou Dianzi University,Hangzhou Zhejiang 310018,China)
Abstract:Based on the Poisson equation,continuity equation and lattice thermal equation,with the aid of the commercial TCAD software,a two-dimensional numerical model of AlGaN/GaN HEMT is built.The temperature profiles caused by self-heating effect under a wide range of bias condition are presented.
Keywords:AlGaN/GaN  HEMT  self-heating effect  thermal analysis  
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