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退火温度对轧制复合Cu/Mo/Cu电子封装材料性能的影响
引用本文:王海山,王志法,姜国圣,肖学章,莫文剑.退火温度对轧制复合Cu/Mo/Cu电子封装材料性能的影响[J].金属热处理,2004,29(5):17-20.
作者姓名:王海山  王志法  姜国圣  肖学章  莫文剑
作者单位:中南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410083
摘    要:研究了不同退火温度对轧制复合Cu/Mo/Cu电子封装材料性能的影响。结果表明退火温度对复合材科日刁剪切强度、轧向导电能力和厚度方向导热能力有显著影响,退火温度为850℃时,Cu/Mo/Cu电子封装材料的综合性能最好。

关 键 词:电子封装材料  Cu/Mo/Cu  轧制复合  退火温发  任一芭
文章编号:0254-6051(2004)05-0017-04

Effect of Annealing Temperatures on the Properties of Roll-Bonding Cu/Mo/Cu Electronic Packaging Composites
WANG Hai-shan,WANG Zhi-fa,JIANG Guo-sheng,XIAO Xue-zhang,MO Wen-jian.Effect of Annealing Temperatures on the Properties of Roll-Bonding Cu/Mo/Cu Electronic Packaging Composites[J].Heat Treatment of Metals,2004,29(5):17-20.
Authors:WANG Hai-shan  WANG Zhi-fa  JIANG Guo-sheng  XIAO Xue-zhang  MO Wen-jian
Abstract:
Keywords:electronic packaging composites  Cu/Mo/Cu  roll-bonding  annealing temperatures  properties
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