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低压电器短路通断试验系统建设中的技术问题
引用本文:黄小雷.低压电器短路通断试验系统建设中的技术问题[J].江苏电器,2005(4):41-43.
作者姓名:黄小雷
作者单位:福建省中心检验所,福建,福州,350002
摘    要:短路性能试验是低压电器产品一项主要的技术指标,短路性能试验能力的大小直接关系电器实验室的标准执行能力。介绍了实验室建设中如何选择试验能力的大小,分析了其影响因素,并对影响试验系统的几个重要技术参数给出了计算公式。

关 键 词:短路通断试验系统  试验能力选择  阻抗计算
文章编号:1007-3175-(2005)04-0041-03
修稿时间:2005年7月7日

Technical Matters in the Construction of Low-voltage Apparatus Short-circuit Make-break Testing System
Authors:HUANG Xiao-Lei
Abstract:Short-circuit capability test is one of the main technology qualification of low-voltage apparatus. The test magnitude of short-circuit capability is directly contributes to the laboratory on the test capability according to standards. This article introduces how to select test capability magnitude and analyses the influence factors of selecting short-circuit capability in the procedure of building test laboratory, and offers the calculation formula for several technological data influence on test system.
Keywords:short-circuit make-break test system  selection of test capability  impedance calculation
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