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| 利用光线追迹法计算展宽器结构参数对色散量的影响 | |
| 作者姓名： | 王勇 王清月 柴路 张伟力 邢岐荣 |
| 作者单位： | 天津大学精密仪器与光电子工程学院,教育部光电信息技术科学开放实验室 天津 300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院, 物理系 |
| 基金项目： | 本课题由国家攀登计划基金资助。 |
| 摘 要： | 利用光线追迹法,对一种常用光栅展宽器的色散量进行了计算,数值分析了展宽器各组成部分的相对位置发迹对二阶色散及产生像差的影响,为展宽器各元件的精确调节提供了依据。 |
| 关 键 词： | 光线追迹 啁啾脉冲激光放大 展宽器 色散 |
| 收稿时间： | 1999-03-09 |
| 修稿时间： | 1999-03-09 |
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