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统计过程控制技术在印刷工序的应用
引用本文:廉大桢,刘军.统计过程控制技术在印刷工序的应用[J].混合微电子技术,2007,18(3):41-44.
作者姓名:廉大桢  刘军
作者单位:陕西华经微电子股份有限公司,西安710065
摘    要:本文从厚膜混合集成电路生产线应用统计过程控制(SPC)技术的需求、意义、实施方案等入手,结合厚膜混合集成电路的工艺特点,给出厚膜混合集成电路印刷工序应用SPC技术的方法。

关 键 词:厚膜混合集成电路  SPC  印刷工序
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