统计过程控制技术在印刷工序的应用 |
| |
引用本文: | 廉大桢,刘军.统计过程控制技术在印刷工序的应用[J].混合微电子技术,2007,18(3):41-44. |
| |
作者姓名: | 廉大桢 刘军 |
| |
作者单位: | 陕西华经微电子股份有限公司,西安710065 |
| |
摘 要: | 本文从厚膜混合集成电路生产线应用统计过程控制(SPC)技术的需求、意义、实施方案等入手,结合厚膜混合集成电路的工艺特点,给出厚膜混合集成电路印刷工序应用SPC技术的方法。
|
关 键 词: | 厚膜混合集成电路 SPC 印刷工序 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|