首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

击穿电压提高的AlGaN/GaN/AlGaN双异质结特性
作者姓名:马俊彩  张进成  薛军帅  林志宇  刘子扬  薛晓咏  马晓华  郝跃
基金项目:国家科技重大专项(批准号:2008ZX01002-002);国家重大、重点自然科学基金(批准号:60890191 与 60736033)
摘    要:本文论述了AlGaN/GaN双异质结高电子迁移率晶体管的特性,该结构使用Al组分为7%的AlGaN来代替传统的GaN作为缓冲层。Al0.07Ga0.93N缓冲层增加了二维电子气沟道下方的背势垒高度,有效提高了载流子限阈性,从而造成缓冲层漏电的显著减小以及击穿电压的明显提高。对于栅尺寸为0.5100μm,栅漏间距为1μm的器件,AlGaN/GaN 双异质结器件的击穿电压(~100V)是常规单异质结器件的两倍(~50V)。本文中的双异质结器件在漏压为35V、频率为4GHz下,最大输出功率为7.78W/mm,最大功率附加效率为62.3%,线性增益为23dB。

关 键 词:AlGaN/GaN/AlGaN双异质结  击穿电压  载流子限阈性
收稿时间:2011-07-18
修稿时间:2011-08-08
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号