| 用X射线衍射精确表征硅酸三钙多晶型 |
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| 引用本文： | 王少鹏,黎学润,何杰,潘志刚,沈晓冬.用X射线衍射精确表征硅酸三钙多晶型[J].硅酸盐学报,2014(2). |
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| 作者姓名： | 王少鹏 黎学润 何杰 潘志刚 沈晓冬 |
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| 作者单位： | 南京工业大学材料科学与工程学院;材料化学工程国家重点实验室; |
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| 基金项目： | 国家“973”计划(2009CB623100);江苏高校优势学科建设工程(PAPD);长江学者和创新团队发展计划(IRT1146)资助项目 |
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| 摘 要： | 在1 500℃条件下,通过掺杂质量分数为0、0.6%及1.5%的MgO制备了T1、T3及M3型硅酸三钙(C3S)。使用不同分辨率的X射线衍射仪对样品进行分析。结果表明:不同晶型的C3S指纹区X射线粉末衍射特征峰存在明显差异,衍射峰的不同可以用于判定C3S晶型;当X射线衍射仪分辨率较低(仪器半高宽≥0.129°)且存在Ka2时,得到的C3S衍射峰特征不明显,存在重叠现象,无法判定C3S晶型;使用高分辨率衍射仪(仪器半高宽≤0.072°),无Ka2影响下,得到的衍射峰清晰,可以对C3S晶型进行精确判定。
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| 关 键 词： | 硅酸三钙 多晶型 X射线衍射 分辨率 特征衍射峰 |
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