高压瓷绝缘子红外热像检测盲区研究EI北大核心CSCD |
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引用本文: | 彭子健,张也,付强,李唐兵,万亚玲,郭良,姚建刚.高压瓷绝缘子红外热像检测盲区研究EI北大核心CSCD[J].电网技术,2017(11):3705-3712. |
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作者姓名: | 彭子健 张也 付强 李唐兵 万亚玲 郭良 姚建刚 |
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作者单位: | 1.湖南大学电气与信息工程学院410082;2.国网江西省电力科学研究院330096; |
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基金项目: | 江西省电力公司科技项目(52182015000P)~~ |
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摘 要: | 为提高红外成像法检测劣化绝缘子的准确性,提出一种基于电网络法的红外热像检测盲区分析方法。根据绝缘子串电压分布,结合绝缘子的发热模型,对比了理想条件下和存在测量误差时的红外热像检测盲区,并就盲区绝缘子对绝缘子串整体温升的影响进行了分析。仿真和试验结果表明:红外热像检测盲区的大小由绝缘子在串中的位置和测量误差决定,绝缘子串两端的绝缘子处于盲区时,对整串绝缘子存在明显的温升抬升效应。根据仿真及试验所得的规律,提出减少红外热像检测盲区的措施,为绝缘子劣化检测提供参考和方法借鉴。
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关 键 词: | 瓷绝缘子 红外热像 电网络法 分布电压 检测盲区 发热模型 |
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