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亚100nm多栅MOSFET的三维模拟
引用本文:夏志良,刘晓彦,刘恩峰,韩汝琦.亚100nm多栅MOSFET的三维模拟[J].半导体学报,2003,24(Z1).
作者姓名:夏志良  刘晓彦  刘恩峰  韩汝琦
作者单位:北京大学微电子所,北京,100871
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:使用三维模拟软件对具有FINFET的多栅结构(主要是双栅和三栅)进行了模拟.对比了双栅和三栅的I-V特性.发现三栅的特性要优于双栅;减小FIN宽度(即两个侧栅之间的距离),双栅和三栅结构特性之间的差距变小.

关 键 词:双栅MOSFET  阈值电压  FINFET  三维模拟  短沟效应

3D Simulation of Mutil-Gate MOSFET with Sub-100nm
Abstract:
Keywords:
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