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| 半导体激光器低频噪声测试及参数提取 | |
| 引用本文： | 曹军胜,张俊,郜峰利,宁永强. 半导体激光器低频噪声测试及参数提取[J]. 应用激光, 2014, 34(4): 355 |
| 作者姓名： | 曹军胜 张俊 郜峰利 宁永强 |
| 作者单位： | 曹军胜:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033 张俊:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033 郜峰利:吉林大学电子科学与工程学院，吉林 长春 130033 宁永强:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金青年科学基金资助项目(项目编号：61204055); 国家重大科学仪器专项资助项目(项目编号：2011YQ040077) |
| 摘 要： | 半导体激光器低频电噪声的大小受器件潜在缺陷的影响，与器件可靠性具有相关性。介绍了半导体激光器噪声测试及参数提取的原理，设计了基于超低噪声前置放大器和低频频谱分析仪的低频电噪声测试系统，可测量半导体激光器的低频电噪声并提取相关噪声参数，进而通过低频电噪声的研究对半导体激光器进行可靠性评价，具有灵敏度高、非破坏性等优点。 |
| 关 键 词： | 半导体激光器 低频电噪声 可靠性 |
| 收稿时间： | 2014-05-12 |
Low-Frequency Noise Measurement and Parameters Extraction for Semiconductor Lasers |
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| Abstract: | |
| Keywords: | semiconductor lasers low-frequency noise reliability |