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0.15μm GaN HEMT及其应用
作者姓名:任春江  陶洪琪  余旭明  李忠辉  王泉慧  王雯  陈堂胜  张斌
作者单位:南京电子器件研究所,微波毫米波单片集成电路与模块重点实验室,南京,210016
摘    要:报道了毫米波应用的0.15μm场板结构GaN HEMT。器件研制采用了76.2mm(3英寸)SiC衬底上外延生长的AlGaN/GaN异质结构材料,该材料由MOCVD技术生长并引入了掺Fe GaN缓冲层技术以提升器件击穿电压。器件栅脚和集成了场板的栅帽均由电子束光刻实现,并采用栅挖槽技术来控制器件夹断电压。研制的2×75μm栅宽GaN HEMT在24V工作电压、35GHz频率下的负载牵引测试结果显示其输出功率密度达到了4W/mm,对应的功率增益和功率附加效率分别为5dB和35%。采用该0.15μm GaN HEMT技术进行了Ka波段GaN功率MMIC的研制,所研制的功率MMIC在24V工作电压下脉冲工作时(100μs脉宽、10%占空比),29GHz频点处饱和功率达到了10.64W。

关 键 词:铝镓氮/氮化镓  高电子迁移率晶体管  场板  毫米波功率单片
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