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基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究
引用本文:张发强, 张维光, 万文博. 基于光线追迹的红外探测光学系统杂散辐射研究[J]. 红外与激光工程, 2019, 48(9): 904006-0904006(6). DOI: 10.3788/IRLA201948.0904006
作者姓名:张发强  张维光  万文博
作者单位:1.西安工业大学 光电工程学院,陕西 西安 710032
基金项目:陕西省教育厅重点实验室科研计划项目(17JS051)
摘    要:杂散辐射分析与抑制是红外探测光学系统设计的重要环节,杂散辐射增加了系统的噪声,降低了红外探测系统对目标的探测能力。首先对红外探测系统杂散辐射源进行了分析,对基于光线追迹的杂散辐射分析理论进行了介绍,并结合具体的红外探测光学系统实例,提出了反向光线追迹的思路,分析系统关键表面的特性,提出了给机械表面涂覆吸收膜的方法来抑制系统的杂散辐射,分析结果满足杂散辐射抑制的要求。

关 键 词:红外探测光学系统  杂散辐射  反向光线追迹  关键表面
收稿时间:2019-05-07
修稿时间:2019-06-20
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