近红外光谱用于鉴别苹果产地的研究

目的:探索近红外光谱定性分析技术鉴别苹果产地的可行性。方法:对天津、陕西和北京3个产地富士苹果品质进行了分析,比较了波段范围、导数处理和散射及标准化处理建立主成分分析结合最小二乘法产地鉴别模型。结果:在1100~1848 nm波段范围内采用一阶导数结合趋势变化法散射处理的光谱预处理方法最优,校正集的鉴别正确率为100%,校正交互验证误差(SECV)0.1245,交互验证相关系数(Rcv)0.9641,预测集的鉴别正确率为98.33%。结论:应用近红外光谱定性分析技术可以准确地、快速地追溯苹果产地的溯源。