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直流反应磁控溅射制备非晶掺锌氧化铟沟道层薄膜
引用本文:周俊,李桂锋,卜东生,张群. 直流反应磁控溅射制备非晶掺锌氧化铟沟道层薄膜[J]. 功能材料与器件学报, 2010, 16(5)
作者姓名:周俊  李桂锋  卜东生  张群
作者单位:复旦大学,材料科学系,上海,200433;SVA 中央研究院,上海,200233
摘    要:
采用直流反应磁控溅射In/Zn合金靶材在室温下制备了非晶掺锌氧化铟(a-IZO)薄膜,作为沟道层应用于氧化物薄膜晶体管。通过在沉积过程中适当调节氧气压强,制备的a-IZO薄膜的电阻率可具有10-3~106Ω.cm即109倍的变化范围。在氧气压强Po2=5×10-2Pa制备的薄膜,其可见光范围平均透射率大于85%。试制了基于a-IZO薄膜沟道层的顶栅结构的氧化物薄膜晶体管。测试表明该薄膜晶体管工作在n型沟道增强模式,场效应迁移率为4.25 cm2V-1s-1,电流开关比约为103。实验结果预示a-IZO薄膜在TFT-LCD和AMOLED等平板显示领域具有应用前景。

关 键 词:掺锌氧化铟  直流反应磁控溅射  薄膜晶体管

Amorphous zinc- doped indium oxide channel layers prepared by DC reactive magnetron sputtering
ZHOU Jun,LI Gui-feng,BU Dong-sheng,ZHANG Qun. Amorphous zinc- doped indium oxide channel layers prepared by DC reactive magnetron sputtering[J]. Journal of Functional Materials and Devices, 2010, 16(5)
Authors:ZHOU Jun  LI Gui-feng  BU Dong-sheng  ZHANG Qun
Affiliation:ZHOU Jun1,LI Gui-feng1,BU Dong-sheng2,ZHANG Qun1(1.Department of Materials Science,Fudan University,Shanghai 200433,China,2.Central Research Academy of SVA Group Co.,Ltd,Shanghai 200233,China)
Abstract:
Keywords:zinc-doped indium oxide  DC reactive magnetron sputtering  TFTs  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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