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光学低频调制法测Hg_(0.7)Cd_(0.3)Te寿命
引用本文:少川.光学低频调制法测Hg_(0.7)Cd_(0.3)Te寿命[J].激光与红外,1982(6).
作者姓名:少川
摘    要:介绍一种新的测量半导体光生栽流子寿命的非接触光学调制技术。这种技术包括测量直流探测光束((?)ω
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