基于LabVIEW的平面度检测系统设计

以图形方式集成化程序开发环境LabVIEW为基础,设计研发平面度检测系统。系统采用电涡流位移传感器布点测量采集平板信息,并由SOC系统级MCU芯片C8051F120智能处理,通过RS232串口通讯与上位机通讯。上位机采用LabVIEW设计程控交互界面,包括检测系统配置界面、平板数据采集界面、已测数据查询面等多界面程序开发,方便用户操作使用。平面度检测系统已用于工业平板平面度检测。