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基于半导体控温的高精密低漂移测温系统
引用本文:丁炯,钟银彪,俞雄飞,杨遂军,叶树亮.基于半导体控温的高精密低漂移测温系统[J].仪表技术与传感器,2018(9).
作者姓名:丁炯  钟银彪  俞雄飞  杨遂军  叶树亮
作者单位:中国计量大学工业与商贸计量技术研究所;宁波出入境检验检疫局技术中心
摘    要:针对绝热加速量热仪对样品微弱放热的检测需求,设计了一种基于冷端及测量电路半导体恒温控制的高精密低漂移热电偶测温系统。系统采用低噪声仪用放大器ISL28634及32位高分辨率模数转换器AD7177-2实现热电偶信号数字化采集;通过高灵敏度NTC热敏电阻进行热电偶冷端测温补偿;利用半导体制冷片针对性控制模拟电路部分温度,使其工作于恒温稳定状态,抑制电路测温漂移。实验结果表明,系统在0~450℃范围内测温精密度优于±0. 005℃,2 h内平均每min测温漂移优于±0. 000 5℃。同时,将该系统应用于绝热加速量热仪,可有效提升仪器热安全评价指标——起始反应温度检测准确度。

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