| 基于正态分布的双应力交叉步阶试验仿真研究 |
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| 引用本文： | 孟亚峰,贾占强,蔡金燕.基于正态分布的双应力交叉步阶试验仿真研究[J].现代电子技术,2009,32(2). |
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| 作者姓名： | 孟亚峰 贾占强 蔡金燕 |
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| 作者单位： | 军械工程学院,河北,石家庄,050003 |
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| 摘 要： | 首先针对高可靠、长寿命电子装备的可靠性评估问题,提出一种新的试验方法--双应力交叉步阶试验.而后在正态分布下,通过理论模型的建立,运用Monte-Carlo仿真对该试验的试验效率问题进行深入研究,分析得出形状参数σ、寿命特征参数μ与加速效率指标之间的基本关系.结果表明在实际试验条件下,双应力交叉步降试验与双应力交叉步加试验相比,其试验效率是十分明显的.
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| 关 键 词： | 加速寿命试验 双应力交叉步阶 蒙特卡洛仿真 正态分布 |
Simulation of Double Crossed Step-stress Testing Based on Normal Distribution |
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| MENG Yafeng,JIA Zhanqiang,CAI Jinyan.Simulation of Double Crossed Step-stress Testing Based on Normal Distribution[J].Modern Electronic Technique,2009,32(2). |
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| Authors: | MENG Yafeng JIA Zhanqiang CAI Jinyan |
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