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| 荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷 | |
| 引用本文： | 李洪路,刘红婕,蒋晓东,黄进,曹林洪.荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷[J].激光与光电子学进展,2019,56(1):116-120. |
| 作者姓名： | 李洪路 刘红婕 蒋晓东 黄进 曹林洪 |
| 作者单位： | 西南科技大学材料科学与工程学院,四川绵阳,621900;中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900 |
| 基金项目： | 西南科技大学龙山学术人才科研支持计划 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 图像处理 荧光成像 亚表面缺陷 激光损伤性能 熔石英 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |