基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案 |
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引用本文: | 张勤,白瑛,张永慧.基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案[J].电子产品世界,2013(5):17-19. |
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作者姓名: | 张勤 白瑛 张永慧 |
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作者单位: | 安捷伦科技 |
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摘 要: | 本方案采用安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪N5106APXB或安捷伦最新信号发生器N5182B/N5172B作为测试平台,通过Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE测试信号并经过信道衰落后送给基站进行解码从而可以统计出基站的吞吐率。
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关 键 词: | 安捷伦 基带信号发生器 信道仿真仪 TD-LTE 基站性能测试 |
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