基于计算机并口的继电器电触点材料性能检测系统 |
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引用本文: | 陆超,汲伟明.基于计算机并口的继电器电触点材料性能检测系统[J].电子元器件应用,2011(7):20-22. |
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作者姓名: | 陆超 汲伟明 |
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作者单位: | 上海城投污水处理有限公司竹园第二污水处理厂;上海应用技术学院电气与电子工程学院; |
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基金项目: | 上海市教委科研基金(06OZ029) |
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摘 要: | 新型铜基电接触材料可被用来作为银基电接触材料的替代产品,对其工作进行客观的预测与评估,是产品应用与发展的关键环节。为了检测触头材料元件的使用寿命与性能及电流之间的关系,针对电触点接触材料特性,设计出一套多通道、低成本、界面友好的电触点接触特性检测系统,并配合专门设计的操作软件,调用WINIO函数操作计算机并口,实现自动检测和数据采集分析的功能,从而获取电触点材料的寿命特性曲线。
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关 键 词: | 电接触材料 继电器 WINIO函数库 并口 |
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