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探测深度如何随距变化:C/O测井计算机模型
引用本文:郭华等 H.zheng.探测深度如何随距变化:C/O测井计算机模型[J].国外测井技术,2002,17(1):31-33.
作者姓名:郭华等  H.zheng
摘    要:一些公司已经开发出了使用双源距探测器的C/O仪器,为在套管中应用这种仪器测量储层,有必要清楚两探测器的探测深度。我们使用通用的Monte Carlo计算机代码分析辐射输运的方法,在高孔隙度地层中用大尺寸C/O仪器来模拟探测深度是如何随探测器间距而变化的。计算机模型是由孔隙度35P.U.的砂岩地层构成,砂岩层被分为8个径向厚度都为7.5cm的同心层,外径31/2英寸(8.9cm)的仪器偏心靠在51/2英寸(14cm)的套管中,套管胶结于直径77/8英寸(20cm)的井眼中间。当含油饱和层渐进更换含水饱和层时,计算出不同源距非弹性伽马谱的C/O比值。对于某一源距,随着油层径向厚度的增大,C/O比率增加的趋势可以由一反曲函数进行回归,并得出探测的深度。计算结果显示探测深度与源距间的关系基本上呈线性关系,而C/O仪器中双源距探测器的探测深度之间却有较大不同。

关 键 词:探测深度  源距  C/O测井  计算机模型  双源距探测器
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