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激光扫描加工图形控制模型的研究
引用本文:赵方方,孙会来,林树忠,齐向阳.激光扫描加工图形控制模型的研究[J].微细加工技术,2006(3):62-64.
作者姓名:赵方方  孙会来  林树忠  齐向阳
作者单位:天津工业大学,机电学院,天津,300160
摘    要:针对激光扫描加工中存在固有图形畸变的情况,提出了DEA(dual-ends approch)控制模型。由于该模型不仅考虑了透镜焦距f、激光入射角θ、振镜偏转角和光学镜组之间的距离,而且还考虑了透镜中心厚度、透镜曲面曲率半径以及透镜介质折射率,因此提高了激光扫描加工系统的加工精度,减小了加工误差。同时利用VC++6.0编制了一个对话框程序,对传统fθ控制模型和DEA控制模型进行了分析比较,结果显示,DEA控制模型能正确表达所设计的加工图形,其精度高于fθ图形控制模型。

关 键 词:激光扫描加工  控制模型  fθ模型  DEA模型
文章编号:1003-8213(2006)03-0062-03
修稿时间:2005年12月6日

Research on Geometry Control Model in Laser Scanning Manufacturing
ZHAO Fang-fang,SUN Hui-lai,LIN Shu-zhong,QI Xiang-yang.Research on Geometry Control Model in Laser Scanning Manufacturing[J].Microfabrication Technology,2006(3):62-64.
Authors:ZHAO Fang-fang  SUN Hui-lai  LIN Shu-zhong  QI Xiang-yang
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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