| 一种基于格雷码的电路自测试序列分配算法 |
| |
| 引用本文： | 孙海珺,王宣明,卢晓博,邵志标. 一种基于格雷码的电路自测试序列分配算法[J]. 计算机学报, 2011, 34(9): 1697-1704. DOI: 10.3724/SP.J.1016.2011.01697 |
| |
| 作者姓名： | 孙海珺 王宣明 卢晓博 邵志标 |
| |
| 作者单位： | 1. 郑州大学信息工程学院 郑州 450001;西安交通大学电子与信息工程学院 西安710049
2. 西安交通大学电子与信息工程学院 西安710049 |
| |
| 摘 要： | 为了降低组合电路内建自测试的测试功耗,提出了一种基于格雷码的测试序列分配算法.分组式格雷码序列和种子序列相异或生成单跳变测试序列,根据电路的基本输入权重,合理分配测试序列位,减少了电路内部节点的跳变,有效降低了电路的测试功耗.该算法应用在改进的布斯二阶乘法器的自测试中,根据不同的数据通道位宽,相对于传统自测试架构,测试...
|
| 关 键 词： | 功耗 内建自测试 权重 测试序列 格雷码 |
An Algorithm of Test Pattern Assignment of Circuit BIST Based on Gray Code |
| |
| SUN Hai-Jun,WANG Xuan-Ming,LU Xiao-Bo,SHAO Zhi-Biao. An Algorithm of Test Pattern Assignment of Circuit BIST Based on Gray Code[J]. Chinese Journal of Computers, 2011, 34(9): 1697-1704. DOI: 10.3724/SP.J.1016.2011.01697 |
| |
| Authors: | SUN Hai-Jun WANG Xuan-Ming LU Xiao-Bo SHAO Zhi-Biao |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
