| 基于遗传算法的随机测试生成技术探究 |
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| 引用本文： | 罗汉青,梁利平,叶甜春.基于遗传算法的随机测试生成技术探究[J].电子测试,2013(13). |
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| 作者姓名： | 罗汉青 梁利平 叶甜春 |
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| 作者单位： | 中国科学院微电子研究所，北京，100029 |
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| 摘 要： | 随着集成电路设计复杂度不断提高，功能验证的挑战也不断增大。为了加快验证进程提高覆盖率，提出了一种新的基于遗传算法（Genetic Algorithm, GA）的随机测试生成方法。该方法基于一种二进制和十进制数混合编码的双层编码模式，并使用了权值可自动调控的功能覆盖点来计算个体适应度值，并将模拟过程中的覆盖率报告自动反馈回给随机测试生成的约束产生。该方法已应用于中国科学院微电子研究所自主研发的IME-Diamond数字信号处理器RTL模型的模块功能验证。实验结果表明，该方法有效提高了验证效率。
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| 关 键 词： | 功能验证 覆盖率驱动 遗传算法 双层编码 |
GENETIC ALGORITHM BASED RANDOM TEST GENERATION:A CASE STUDY |
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| Luo Hanqing
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Liang Liping
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Ye Tianchun.GENETIC ALGORITHM BASED RANDOM TEST GENERATION:A CASE STUDY[J].Electronic Test,2013(13). |
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| Authors: | Luo Hanqing Liang Liping Ye Tianchun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Functional verification Coverage-directed Genetic algorithm Double-layer encoding |
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