HT-7装置上充气对低杂波耦合影响的实验及分析 |
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作者姓名: | 李妙辉 丁伯江 李文科 孔二华 吴金华 单家方 王茂 徐旵东 |
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作者单位: | 中国科学院 ;等离子体物理研究所,安徽 ;合肥 ;230031 |
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摘 要: | 在低杂波(LHW)天线端口充D2和CD4,发现LHW的耦合效果能得到明显改善,充气后LHW的反射系数基本降为6%左右。不同窗口充气对波的耦合和等离子体密度的影响不同,其原因是改善耦合的关键是提高刮削层(SOL)内等离子体的密度。D2与CH4对LHW耦合影响的实验结果表明:D2对LHW的耦合效果影响略好于CH4,但D2对等离子体密度的影响明显高于CH4,原因是D2对电子密度的贡献更大。
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关 键 词: | 充气
低杂波耦合
等离子体密度 |
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