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陷阱电荷对GMLM工作电压的影响
引用本文:张洁,黄尚廉,孙吉勇,张智海,朱永.陷阱电荷对GMLM工作电压的影响[J].半导体学报,2008,29(7).
作者姓名:张洁  黄尚廉  孙吉勇  张智海  朱永
作者单位:重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400030
基金项目:重庆市院士基金,国家自然科学基金,中国博士后科学基金,重庆市自然科学基金
摘    要:光栅平动式光调制器(GMLM)依靠可动光栅在静电力作用下向下反射镜移动,从而改变光程差,实现光调制.结构中siO2绝缘层在外加电场作用下产生陷阱电荷,对器件的驱动特性产生影响.作者依据高斯定理,建立GMLM存在陷阱电荷情况下的电力学模型,分析了外加电场作用下,GMLM极板电荷的分布,以及外加电压与可动光栅位移的关系;比较了两种情况下(考虑与不考虑绝缘层陷阱电荷影响)工作电压变化情况.设计了实验方案,进行了实验研究.结果表明:由于陷阱电荷产生陷阱电压,使得产生相同位移需要的工作电压增加;充电时间越长,陷阱电荷产生的陷阱电压越大;实验结果与理论分析吻合.

关 键 词:光栅  陷阱电荷  工作电压

Effect of Trapped Charges on GMLM Pull-Out Voltage
Zhang Jie,Huang Shanglian,Sun Jiyong,Zhang Zhihai,Zhu Yong.Effect of Trapped Charges on GMLM Pull-Out Voltage[J].Chinese Journal of Semiconductors,2008,29(7).
Authors:Zhang Jie  Huang Shanglian  Sun Jiyong  Zhang Zhihai  Zhu Yong
Abstract:
Keywords:
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