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注碳外延硅的荧光特性研究
引用本文:李玉国,孙钦军,曹玉萍,王强,王建波,张秋霞. 注碳外延硅的荧光特性研究[J]. 半导体光电, 2006, 27(5): 560-562
作者姓名:李玉国  孙钦军  曹玉萍  王强  王建波  张秋霞
作者单位:山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014
摘    要:研究了注碳外延硅经氢气退火及电化学腐蚀处理后的荧光特性。经能量为50keV,剂量为2×1016cm-2的碳离子注入后的外延单晶硅片,在氢气氛下高温退火及电化学腐蚀处理。荧光谱仪分析表明电化学腐蚀是蓝光发射的前提,并且不同的电化学腐蚀条件对发光强度和峰位影响极大。不同的激发光波长亦可影响发光谱的峰位。

关 键 词:离子注入  电化学腐蚀  蓝光发射  发光中心
文章编号:1001-5868(2006)05-0560-03
收稿时间:2006-02-17
修稿时间:2006-02-17

Photoluminescence of C+-Implanted Epitaxial Silicon
LI Yu-guo,SUN Qin-jun,CAO Yu-ping,WANG Qiang,WANG Jian-bo,ZHANG Qiu-xia. Photoluminescence of C+-Implanted Epitaxial Silicon[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2006, 27(5): 560-562
Authors:LI Yu-guo  SUN Qin-jun  CAO Yu-ping  WANG Qiang  WANG Jian-bo  ZHANG Qiu-xia
Abstract:
Keywords:ion implantation   anodization   blue light emission   luminescent centre
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