光模块中的MLCC加速寿命试验分析方法研究

片式多层陶瓷电容器（MLCC）是一种储能元件，是光通信设备中使用最广、用量最大的电子元件，广泛地应用于隔直、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换和控制电路等方面。伴随着光通信、终端设备市场的发展，客户对MLCC在不同应用条件下的工作寿命预估的需求越来越强烈。为了解不同厂商相同规格的MLCC在相同应用条件下的可靠性水平差异，基于阿伦纽斯模型模拟实际使用过程中的电应力和高温应力的作用，按照电压加速系数与温度加速系数来设计实验并推算出MLCC的使用寿命。