线阵列探测器串扰试验

通过对芬兰DT公司生产的XSCAN0.4f线阵列探测器进行串扰试验,分析了X射线源的分布和光子在不同角度入射时对阵列探测器串扰的影响。介绍了探测器试验校准过程,包括偏置和增益的校准。讨论了准直狭缝试验和边沿试验中探测器的位置分辨力,发现在阵列探测器各单元工作性能稳定的情况下,串扰和散射是影响扫描图像均匀性的重要因素,而且相同能量的光子在垂直入射与斜入射情况下产生的串扰不同。