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DSP芯片动态老炼系统设计与实现
作者姓名:王涛  钱昀莹  韦凯  田旭
作者单位:1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所;2. 中国矿业大学(北京)机械与电气工程学院
基金项目:国家自然科学基金(51707194);
摘    要:在集成电路的可靠性筛选试验中,老炼试验是最重要和最有效的试验。针对静态老炼和传统动态老炼方式的局限性,提出了一种DSP芯片动态老炼系统的设计与实现方法。该动态老炼系统实现了老炼程序自动加载,可以实时监测每个工位老炼试验情况,将老炼过程中发现的失效电路及时剔除,试验结果可以自动存储,便于后期进行试验结果分析。相比静态老炼和传统动态老炼方式,该系统测试覆盖率更高,提高了产品可靠性。

关 键 词:DSP  动态老炼  自动加载  可靠性
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