DSP芯片动态老炼系统设计与实现 |
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作者姓名: | 王涛 钱昀莹 韦凯 田旭 |
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作者单位: | 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所;2. 中国矿业大学(北京)机械与电气工程学院 |
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基金项目: | 国家自然科学基金(51707194); |
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摘 要: | 在集成电路的可靠性筛选试验中,老炼试验是最重要和最有效的试验。针对静态老炼和传统动态老炼方式的局限性,提出了一种DSP芯片动态老炼系统的设计与实现方法。该动态老炼系统实现了老炼程序自动加载,可以实时监测每个工位老炼试验情况,将老炼过程中发现的失效电路及时剔除,试验结果可以自动存储,便于后期进行试验结果分析。相比静态老炼和传统动态老炼方式,该系统测试覆盖率更高,提高了产品可靠性。
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关 键 词: | DSP 动态老炼 自动加载 可靠性 |
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