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光电技术在纱线疵点检测中的应用
引用本文:唐述宏. 光电技术在纱线疵点检测中的应用[J]. 毛纺科技, 2008, 0(6): 43-45
作者姓名:唐述宏
作者单位:潍坊学院信息与控制工程学院,山东,潍坊,261061
摘    要:
介绍了纱线疵点的检测方法,讨论了测量系统的构成,给出了该系统硬件原理图,分析了系统工作原理.基于CCD的塑料薄膜缺陷检测系统在平行光的照射下,通过线阵CCD控制电路获得塑料薄膜缺陷信号,使用虚拟示波器DSO-2902对缺陷信号进行采集、传输,借助计算机进行分析处理,从而精准地检测出缺陷.该系统硬件线路简单可靠、性价比高,并配有与上位机通信的USB接口,能高速实时地将纱线疵点图像信息传送至上位PC计算机.

关 键 词:光电技术  纱线疵点  检测方法  数据采集
文章编号:1003-1456(2008)06-0043-03
修稿时间:2008-02-18

Applicaion of photoelectric technique in yarn defect test
TANG Shu-hong. Applicaion of photoelectric technique in yarn defect test[J]. Wool Textile Journal, 2008, 0(6): 43-45
Authors:TANG Shu-hong
Abstract:
Keywords:
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