首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

某型导发架内外场通用测试系统研究
引用本文:谢化勇,肖明清,丁妍.某型导发架内外场通用测试系统研究[J].微计算机信息,2008,24(28).
作者姓名:谢化勇  肖明清  丁妍
摘    要:在对某型导发架的测试资源进行详尽分析的基础上,充分利用LXI总线的技术优势,按照通用化、模块化的设计原J,J构建了某型导发架内外场通用测试系统的软、硬件平台,并基于UML语言描述了其软件模型.最后对多台设备间的定时与同步、TPS的软件测试技术等关键技术进行了研究分析.实践证明,该系统能够显著降低成本及系统复杂性,增强配置灵活性,具有更高的性价比和通用性.

关 键 词:LXI总线  通用测试系统  统一建模语言  软件测试模型

Research on A Missile Launched Rack's Infield and 0UtfieId Universal Test System
XIE Hua-yong,XIAO Ming-qing,DING Yan.Research on A Missile Launched Rack's Infield and 0UtfieId Universal Test System[J].Control & Automation,2008,24(28).
Authors:XIE Hua-yong  XIAO Ming-qing  DING Yan
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号