| 基于双掩模图像差影的工业产品表面缺陷检测 |
| |
| 引用本文： | 化春键,邓朝省,陈莹.基于双掩模图像差影的工业产品表面缺陷检测[J].传感器与微系统,2015,34(5):127-129,133. |
| |
| 作者姓名： | 化春键 邓朝省 陈莹 |
| |
| 作者单位： | 1. 江南大学机械工程学院,江苏无锡214122;江苏省食品先进制造装备技术重点实验室江南大学,江苏无锡214122;2. 江南大学物联网工程学院,江苏无锡,214122 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目，中央高校基本科研业务费专项资金资助项目 |
| |
| 摘 要： | 针对利用图像差影法进行缺陷检测时易受配准精度和产品制作过程扰动的影响,以及单掩模算法难以检测不同类型缺陷的问题,结合工业产品表面缺陷,提出基于双掩模的图像差影策略.通过分别提取模板图像和待测图像的边缘并作膨胀处理得到双掩模即模板掩模和待测掩模,双掩模进行融合处理后分别与模板图像和待测图像做卷积,再采用差影法进行缺陷检测.实验证明:该方法能精确检测出多类表面缺陷,且满足实时要求.
|
| 关 键 词： | 缺陷检测 差影法 掩模 斑点分析 |
Industrial products surface defects detection based on image subtraction with double masks |
| |
| HUA Chun-jian
,
DENG Chao-sheng
,
CHEN Ying.Industrial products surface defects detection based on image subtraction with double masks[J].Transducer and Microsystem Technology,2015,34(5):127-129,133. |
| |
| Authors: | HUA Chun-jian DENG Chao-sheng CHEN Ying |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | defects detection image subtraction method masks spot analysis |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
