| Characterisation of orientation noise for EBSP technique |
| |
| 作者姓名： | WUGui－lin LIUQing |
| |
| 作者单位： | DepartmentsofMaterialsScienceandEngineering,TsinghuaUniversity,Beijing100084 |
| |
| 基金项目： | NationalNatureScienceFoundationofChina(No .5 982 5 110 ) |
| |
| 摘 要： | ＩｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎＥｌｅｃｔｒｏｎｂａｃｋ ｓｃａｔｔｅｒｅｄｐａｔｔｅｒｎ (ＥＢＳＰ)ａｎａｌｙｓｉｓｉｎｔｈｅｓｃａｎｎｉｎｇｅｌｅｃｔｒｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅａｓａｔｏｏｌｆｏｒｉｎｖｅｓｔｉｇａｔｉｎｇｍｉｃｒｏｓｔｒｕｃｔｕｒｅｈａｓｂｅｅｎｗｅｌｌｅｓｔａｂｌｉｓｈｅｄ .Ｔｈｉｓｔｅｃｈｎｉｑｕｅｈａｓｍａｎｙａｄｖａｎｔａｇｅｓｏｖｅｒｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎｅｌｅｃｔｒｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ .Ａｄｒａｗｂａｃｋｏｆｔｈｉｓｔｅｃｈｎｉｑｕｅｉｓｔｈｅａｎｇｕｌａｒｒｅｓｏ…
|
| 关 键 词： | EBSP 取向误差 误差表征 电子背散射谱 扫描电子显微镜 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ |
