基于包络检测的射频功率放大器平均效率提高技术 |
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作者姓名: | 魏蒙 俞小宝 池保勇 |
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作者单位: | 清华大学 微电子学研究所, 北京 100084,清华大学 微电子学研究所, 北京 100084,清华大学 微电子学研究所, 北京 100084 |
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摘 要: | 提出了一种基于包络检测的射频功率放大器平均效率提高技术。该技术通过片上集成的包络检测器检测输入信号强度,通过动态配置功率放大管的尺寸,并调节输出阻抗匹配网络优化负载阻抗,提高功率放大器在低输出功率下的效率,达到提高功率放大器平均效率的目的。电路采用0.18 μm CMOS工艺实现,后仿真结果表明,在高输出功率模式下,该射频功率放大器的输出1 dB压缩点为18.05 dBm,PAE为30.2%;在两档低输出功率模式下的输出1 dB压缩点分别为14.9 dBm和11 dBm,PAE分别为24.11%和17.1%。
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关 键 词: | CMOS工艺 射频功率放大器 平均效率 包络检测器 |
收稿时间: | 2014-03-14 |
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