|
|||||
|
|
| 湿度对红外成像检测零值绝缘子的影响分析 | |
| 引用本文： | 夏德分,覃其婷,郑小革,李卓,罗滇生,曹一家,蒋正龙.湿度对红外成像检测零值绝缘子的影响分析[J].电力科学与技术学报,2015(2):55-60. |
| 作者姓名： | 夏德分 覃其婷 郑小革 李卓 罗滇生 曹一家 蒋正龙 |
| 作者单位： | 1. 国家电网衡阳供电公司,湖南 衡阳,421008 2. 湖南大学 电气与信息工程学院,湖南 长沙,410082 3. 湖南省电力公司电力科学研究院,湖南 长沙,410007 |
| 基金项目： | 国家重点产业振兴和技术改造专项投资 |
| 摘 要： | 红外成像技术以非接触、不停电等优点广泛应用于故障绝缘子检测,但其检测准确性易受环境湿度、温度等因素影响。以XP-160盘形瓷质绝缘子为试品,分析在不同环境条件和污秽程度下获得的绝缘子红外图像,研究相对湿度对红外成像检测洁净绝缘子和污秽绝缘子的影响。实验结果表明:对于洁净绝缘子,相对湿度对红外检测零值基本无影响;对于污秽绝缘子,相对湿度越大,越有利于红外检测,但相对湿度过大,容易出现零值绝缘子的误检或漏检。同时分析温度对红外检测的影响,建议避免在高温环境下进行红外检测零值。 |
| 关 键 词： | 零值绝缘子 红外检测 相对湿度 绝缘电阻 |
Analysis of humidity influence on infrared thermal image detecting of zero insulators |
|
| XIA De-fen,QIN Qi-ting,ZHENG Xiao-ge,LI Zhuo,LUO Dian-sheng,CAO Yi-jia,JIANG Zheng-long.Analysis of humidity influence on infrared thermal image detecting of zero insulators[J].JOurnal of Electric Power Science And Technology,2015(2):55-60. | |
| Authors: | XIA De-fen QIN Qi-ting ZHENG Xiao-ge LI Zhuo LUO Dian-sheng CAO Yi-jia JIANG Zheng-long |
| Affiliation: | XIA De-fen;QIN Qi-ting;ZHENG Xiao-ge;LI Zhuo;LUO Dian-sheng;CAO Yi-jia;JIANG Zheng-long;State Grid Hengyang Power Supply Company;College of Electrical and Information Engineering,Hunan University;Hunan Electric Power Company Electric Science Research Institute; |
| Abstract: | |
| Keywords: | zero-resistance insulator infrared detection relative humidity insulation resistance |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |