关于V_(os)、I_(os)的统计分布

失调电压V_(os)、失调电流I_(os)是线性集成电路的主要参数。它们从不同角度描述产品内部对称元件的失配程度。我们知道,电阻、晶体管等元件的失配程度是随机变量,所以失调电压V_o和失调电流I_(os)也是随机变量。显然,它们不仅与各厂家生产工艺水平有很大关系,而且与输入级差分电路的结构形式也有关系。一般的分析V_(os)、I_(os)的资料很多,但从统计分布的角度分析V_(os)、I_(os)的资料却很少。本文试图从理论上分析V_(os)、I_(os)的统计分布特性,并给出了查阅方便的概率与m倍均方差之间的数值表和曲线。因为V_(os)、I_(os)的统计特性服从正态分布,最终将归结于计算电路的V_(os)、I_(os)的均方差,所以本文还分析了几种典型电路的V_(os)、I_(os)的均方差