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射频磁控溅射制备HfMoNbZrNx薄膜的组织和性能
引用本文:谢明强,施杰,李博海,胡恒宁,汪辉,巫兴胜,张丽,苏齐家,杜昊.射频磁控溅射制备HfMoNbZrNx薄膜的组织和性能[J].工具技术,2024(1):3-8.
作者姓名:谢明强  施杰  李博海  胡恒宁  汪辉  巫兴胜  张丽  苏齐家  杜昊
作者单位:1. 成都工具研究所有限公司;2. 贵州大学机械工程学院;3. 中国人民解放军93147部队;4. 中国船舶集团海装风电股份有限公司;5. 贵州大学公共大数据国家重点实验室
基金项目:国家自然科学基金(52165021,51805102);
摘    要:利用射频磁控溅射技术分别在单面抛光Si(001),Al2O3(0001)和硬质合金(WC-8 wt.%Co)基底表面沉积HfMoNbZrNx薄膜,研究不同氮气流量RN对HfMoNbZrNx薄膜的组织和性能影响。结果表明,HfMoNbZr薄膜倾向于形成非晶态,随着RN的增加,HfMoNbZrN高熵合金氮化薄膜转变为面心立方(FCC)结构并且沉积速率下降;当RN=10%时,薄膜硬度和弹性模量最大,分别为21.8GPa±0.88GPa和293.5GPa±9.56GPa;所有薄膜均发生磨粒磨损,相较于多元合金薄膜,氮化物薄膜的磨损率下降了一个数量级,薄膜耐磨性显著提高。

关 键 词:射频磁控溅射  HfMoNbZrNx薄膜  微观结构  硬度  摩擦学
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