| 高纯钨中杂质元素的化学光谱法测定 |
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| 引用本文： | 余国华,陈觉.高纯钨中杂质元素的化学光谱法测定[J].稀有金属材料与工程,1994(5). |
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| 作者姓名： | 余国华 陈觉 |
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| 作者单位： | 西北有色金属研究院 |
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| 摘 要： | 采用以一定比例的ＨＮＯ３和ＨＣｌ为介质，使钨沉淀成钨酸与杂质分离，然后用碳粉吸附杂质再进行光谱测定的方法，对高纯钨（包括金属钨、三氧化钨、钨酸、钨酸铵）中１５个杂质元素Ｆｅ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｍｎ、Ａｌ、Ｖ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｃａ、Ｍｓ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｂｉ、Ｃｄ、Ｂｅ进行了测定，取得了理想的结果，测定下限可达（０．１～０．５）×１０（－６）。
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| 关 键 词： | 高纯钨，化学光谱法测定，杂质 |
Methods for the Determination of the Trace Impurities in High Purity Tungsten by Chemical Spectrometry |
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| Yu Guohu,Chen Jue.Methods for the Determination of the Trace Impurities in High Purity Tungsten by Chemical Spectrometry[J].Rare Metal Materials and Engineering,1994(5). |
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| Authors: | Yu Guohu Chen Jue |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | igh purity tungsten the chemical spectrometry determination |
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