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典型绝缘子串人工污秽试验研究
引用本文:董风宇,郝旭东.典型绝缘子串人工污秽试验研究[J].华北电力技术,1991(1):9-13,21.
作者姓名:董风宇  郝旭东
作者单位:华北电力试验研究所,华北电力试验研究所,华北电力试验研究所,华北电力试验研究所
摘    要:为了了解、掌握 X—4.5、π—4.5、XWP_2—7三种绝缘子组件的污秽闪络特性,本文介绍了在试验室进行人工污秽试验研究的情况、试验数据,并提供了这三种绝缘子串污秽闪络特性。

关 键 词:绝缘子  人工污秽  试验  绝缘子串
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