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| 金属锑中微量杂质的光谱测定 | |
| 引用本文： | 胡文珍.金属锑中微量杂质的光谱测定[J].稀有金属材料与工程,1994,23(6):52-55. |
| 作者姓名： | 胡文珍 |
| 作者单位： | 西北有色金属研究院 |
| 摘 要： | 利用直接光谱法测定锑中Ａｓ、Ｃｏ、Ｂｉ、Ｐｂ、Ｃｒ、Ｓｎ、Ｍｇ、Ｆｅ、Ａｌ、Ｎｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ等微量杂质，选择石墨粉作为缓冲剂，改善了谱线的重复性，对样品处理进行了详细的分析研究，以最佳的光谱测定条件，使元素测定下限达到３×１０－４％─３×１０－３％，相对误差在２２％以内，为金属锑纯度的全面分析建立了可靠的分析方法。 |
| 关 键 词： | 锑 杂质元素 光谱测定 金属材料 微量分析 |
Spectrometric Determination for Trace Impurities in Stibium |
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| Hu Wenzhen.Spectrometric Determination for Trace Impurities in Stibium[J].Rare Metal Materials and Engineering,1994,23(6):52-55. | |
| Authors: | Hu Wenzhen |
| Abstract: | |
| Keywords: | Stibium impurity elements spectrometric determination |
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