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基于FPGA芯片的抗单粒子翻转的动态刷新技术研究
引用本文:何小飞,章慧彬,徐玉婷,杨煜. 基于FPGA芯片的抗单粒子翻转的动态刷新技术研究[J]. 电子与封装, 2019, 19(12): 51-54
作者姓名:何小飞  章慧彬  徐玉婷  杨煜
作者单位:无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡214072;中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
摘    要:
在分析FPGA空间单粒子效应的基础上,为了实现星载电子设备运行的稳定性,研究FPGA的动态刷新原理,介绍了几种抗单粒子翻转方法,根据位流文件设计出用于动态刷新的指令并通过实例验证。通过FPGA定期从PROM中读取用户配置信息,动态刷新内部配置信息,从而减少FPGA配置存储器发生单粒子翻转的概率,提高星载电子设备运行的可靠性。

关 键 词:FPGA  动态刷新  配置  单粒子翻转

Dynamic Scrubbing Research on Correcting Single-event Upsets in FPGA Chip
Abstract:
Keywords:
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