3000C在路故障测试仪原理及应用

逻辑电路在路故障测试是国外80年代才逐步发展成熟的一种逻辑电路诊断技术,主要采用了在电路板上向被测元件的输入,施加时间限制得非常短,占空比非常低的低阻抗逻辑电平信号的办法,使在不损坏前级元件的情况下,克服前级输出的影响,对被测元件独立进行激励,并检测其响应来测定元件故障问题。本文以3000c为例,对逻辑电路在路故障测试设备的原理及应用问题进行叙述。