| 基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定 |
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| 引用本文： | 李军,韦敏习,杨国洪,侯立飞,易涛,刘慎业.基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定[J].核电子学与探测技术,2013,33(3):316-320. |
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| 作者姓名： | 李军 韦敏习 杨国洪 侯立飞 易涛 刘慎业 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳,621900 |
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| 摘 要： | 基于实验室X射线衍射仪,利用其运行稳定性和高精度角度控制能力,通过设计、制作晶体样品架,对X光平面晶体的本征参数晶格常数和积分衍射效率进行了实验标定,并给出其不确定度。该方法快速、高效、方便、灵活,实现了X光晶体的实验室标定,为ICF物理实验线谱诊断设备晶体谱仪的定量化测量提供了数据支撑。
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| 关 键 词： | X射线衍射仪 X光晶体 本征参数 标定方法 |
Calibration of X-ray Flat Crystal Characteristic Parameters on the Automatic X-ray Diffractometer |
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| LI Jun
,
WEI Min-xi
,
YANG Guo-hong
,
HOU Li-fei
,
YI Tao
,
LIU Shen-ye.Calibration of X-ray Flat Crystal Characteristic Parameters on the Automatic X-ray Diffractometer[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2013,33(3):316-320. |
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| Authors: | LI Jun WEI Min-xi YANG Guo-hong HOU Li-fei YI Tao LIU Shen-ye |
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| Affiliation: | (Research Center of Laser Fusion,CAEP,Mianyang 621900,China) |
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| Abstract: | |
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