| 会聚偏光干涉测量晶体双折射率 |
| |
| 引用本文： | 毛谦敏,沈为民,李卫涛. 会聚偏光干涉测量晶体双折射率[J]. 光电工程, 2006, 33(4): 124-127 |
| |
| 作者姓名： | 毛谦敏 沈为民 李卫涛 |
| |
| 作者单位： | 中国计量学院,光电工程系,浙江,杭州,310018;中国计量学院,光电工程系,浙江,杭州,310018;中国计量学院,光电工程系,浙江,杭州,310018 |
| |
| 摘 要： | ![]()
光轴平行表面的晶片的会聚偏光干涉对晶体的双折射率非常敏感。干涉图的对称中心对应于正入射光线,双折射率正比于此点的干涉级md,md的小数部分主要由中央暗条纹的位置决定,md的整数部分由自洽的办法求出。干涉条纹可以用双曲线很好地拟合,使干涉图特征点的提取更为精确。用不同厚度的铌酸锂晶片作了测量,双折射率不确定度为1×10-4。
|
| 关 键 词： | 晶体光学 折射率测量 会聚偏光干涉 单轴晶体 CCD摄像机 |
| 文章编号： | 1003-501X(2006)04-0124-04 |
| 收稿时间： | 2005-10-11 |
| 修稿时间： | 2006-02-10 |
Measurement of the crystal birefractive index by conoscopic interference |
| |
| MAO Qian-min,SHEN Wei-min,LI Wei-tao. Measurement of the crystal birefractive index by conoscopic interference[J]. Opto-Electronic Engineering, 2006, 33(4): 124-127 |
| |
| Authors: | MAO Qian-min SHEN Wei-min LI Wei-tao |
| |
| Abstract: | ![]()
|
| |
| Keywords: | Crystal optics Refractivity measurement Conoscopic interference Uniaxial crystal CCD camera |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
