| IIR滤波器的测试及可测性设计 |
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| 引用本文： | 肖继学,陈光.IIR滤波器的测试及可测性设计[J].计算机辅助设计与图形学学报,2007,19(2):203-209. |
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| 作者姓名： | 肖继学 陈光 |
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| 作者单位： | 1. 电子科技大学自动化工程学院,成都,610054;西华大学机械工程与自动化学院,成都,610039
2. 电子科技大学自动化工程学院,成都,610054 |
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| 摘 要： | 基于加法器测试生成,提出了无限脉冲响应(IIR)滤波器的一种通用可测性设计、测试方案.在测试模式下,通过切断IIR滤波器中的反馈回路提高了该设计的可测性.通过复用原电路中的部分寄存器和加法器来提高其可测性,降低了额外的测试硬件面积开销.该方法能在真速下高效地侦测到IIR滤波器基本组成单元内的任意固定型组合失效,没有降低电路性能.
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| 关 键 词： | 滤波器 可测性设计 加法器 乘法器 测试生成 失效 滤波器 测试硬件 可测性设计 Filter 电路性能 失效 组合 固定 单元 组成 侦测 方法 面积 寄存器 路提 反馈 切断 测试模式 测试方案 无限脉冲响应 |
| 收稿时间： | 2006-04-30 |
| 修稿时间： | 2006-04-302006-07-20 |
Test and Design-for-Testability of IIR Filter |
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| Xiao Jixue,Chen Guangju,Xie Yongle.Test and Design-for-Testability of IIR Filter[J].Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics,2007,19(2):203-209. |
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| Authors: | Xiao Jixue Chen Guangju Xie Yongle |
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| Abstract: | Based on arithmetic additive generator, we present an universal design-for-testability and test strategy for infinite impulse response (IIR) filter. The design improves the circuit testability by the aid of cutting off feedback loops in IIR filter in test mode. Reuse of some adders and registers in IIR filter design-for-testability, additional hardware and area overhead are reduced. The test strategy can detect any combinational stuck-at faults within the circuit basic building cell efficiently without degradation of circuit performance. |
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| Keywords: | filter design-for-testability adder multiplier generator fault |
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