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多晶CdS/CdTe异质结界面的能带偏移
作者姓名:黄代绘  吴海霞  李卫  冯良桓
作者单位:西南交通大学理学院 成都610031 (黄代绘),四川大学材料科学与工程学院 成都610064 (吴海霞,李卫),四川大学材料科学与工程学院 成都610064(冯良桓)
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:采用真空蒸发法制备了CdS和CdTe,并对其结构和光学性质进行了研究.原位制备了衬底沿(001)高度择优取向的CdS/CdTe异质结,研究了其结构、电子学性质.获得的CdS/CdTe半导体异质结的价带偏移ΔEV=0.98eV±0.05eV,导带偏移ΔEc=0.07±0.1eV.

关 键 词:真空沉积  CdS/CdTe异质结  价带偏移  导带偏移
文章编号:0253-4177(2005)06-1144-05
修稿时间:2004-08-08
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