多晶CdS/CdTe异质结界面的能带偏移 |
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作者姓名: | 黄代绘 吴海霞 李卫 冯良桓 |
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作者单位: | 西南交通大学理学院 成都610031
(黄代绘),四川大学材料科学与工程学院 成都610064
(吴海霞,李卫),四川大学材料科学与工程学院 成都610064(冯良桓) |
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基金项目: | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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摘 要: | 采用真空蒸发法制备了CdS和CdTe,并对其结构和光学性质进行了研究.原位制备了衬底沿(001)高度择优取向的CdS/CdTe异质结,研究了其结构、电子学性质.获得的CdS/CdTe半导体异质结的价带偏移ΔEV=0.98eV±0.05eV,导带偏移ΔEc=0.07±0.1eV.
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关 键 词: | 真空沉积 CdS/CdTe异质结 价带偏移 导带偏移 |
文章编号: | 0253-4177(2005)06-1144-05 |
修稿时间: | 2004-08-08 |
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