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SBGA器件焊点缺陷原因分析及工艺改进
作者姓名:刘英  侯星珍  符云峰
作者单位:中国电子科技集团公司第二十九研究所,四川成都,610036;中国电子科技集团公司第二十九研究所,四川成都,610036;中国电子科技集团公司第二十九研究所,四川成都,610036
摘    要:

关 键 词:SBGA  一次合格率  工艺改进
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