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杂志ISSN号
β射线吸收法测厚
作者姓名:
李振元
作者单位:
北京市刑事科学技术研究所
摘 要:
dE/dX探测器的厚度及其分布必须精确测量,因为它是重要参数,厚度范围一般在10—300μm。金属片铜、铝以及纸张、胶片等同样要测量它们的厚度。利用辐射吸收测定物质的厚度,可使产品不接触测定仪器,就给出控制厚度和用于记录的信号。其测量精度高、反应快、范围宽。
关 键 词:
厚度
精度
线性吸收系数
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